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薄膜測厚儀產品特點
  • 發布日期:2019-07-08     信息來源:      瀏覽次數:29
    •   薄膜測厚儀產品特點
        采用進口優質傳感器,測厚分辨率高達0.1微米選用優質傳動元件,確保了試驗結果的穩定性與準確性。
        大液晶屏顯示,操作簡便,配備微型打印機直接打印試驗報告。
        另外具有電腦通信接口,通過選購軟件實現數據的存儲、查詢、打印;軟件功能強大,可將成組試驗數據用柱形圖或列表方式進行統計,試結報告可直接在局域網或廣域網中進行傳輸。
        典型的基底材料為:
        SiGe、GaAs、ZnS、ZnSe、鋁丙烯酸、藍寶石、玻璃、聚碳酸酯、聚合物、石英。
        儀器具有開放性設計,儀器的光纖探頭可很方便地取出,通過儀器附帶的光纖適配器(如圖所示)連接到帶C-mount的顯微鏡(顯微鏡需另配),就可以使本測量儀適用于微區(>10μm,與顯微鏡放大率有關)薄膜厚度的測量。
        強大的軟件功能:
        界面友好,操作簡便,用戶點擊幾下鼠標就可以完成測量。便捷快速的保存、讀取測量得到的反射譜數據數據處理功能強大,可同時測量多達四層的薄膜的反射率數據。一次測量即可得到四層薄膜分別的厚度和光學常數等數據。材料庫中包含了大量常規的材的光學常數數據。用戶可以非常方便地自行擴充材料數據庫。

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